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光盘编号：872949 《形方缺陷专题资料光盘》包括专利技术全文资料334份。整套光盘收费300元，全国范围内可免费货到付款。请选择订购方式：
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技术编号 技术名称
(872949-0334) 用于对连续铸造板坯上的表面缺陷进行识别和分类的方法
(872949-0333) 基于电磁层析成像的碳纤维复合材料缺陷检测装置及方法
(872949-0332) 高温连铸坯表面缺陷形态及深度在线无损检测方法
(872949-0331) 碳纤维增强改性双马来酰亚胺层压板的缺陷热揭层方法
(872949-0330) 一种双频率超声检测发电机定子绝缘缺陷的方法
(872949-0329) 一种软件缺陷报告分流方法及其系统
(872949-0328) 一种钢轨表面缺陷的三维检测方法
(872949-0327) 降低存储单元电容器的缺陷的方法
(872949-0326) 修补基板上的缺陷的方法
(872949-0325) 太阳能电池检查装置以及太阳能电池缺陷判定方法
(872949-0324) 铸件机加工后表面缺陷的修复方法
(872949-0323) 一种控制钢材内部缺陷的方法
(872949-0322) 缺陷数据备份方法
(872949-0321) 薄膜晶体管阵列电路缺陷修补的实时检测方法
(872949-0320) 减少芯片焊盘区晶格缺陷形成的方法及相应焊盘形成方法
(872949-0319) 柴油机曲轴缺陷的修复方法
(872949-0318) 控制粉末冶金材料及制品烧结膨胀缺陷的烧结方法及模具
(872949-0317) 一种去除残留缺陷的方法
(872949-0316) 利用超声波探伤壁厚检测分层缺陷装置及其检测方法
(872949-0315) 乳房内乳头密封剂和使用该制剂降低或消除成熟干酪中视觉缺陷的方法
(872949-0314) 一种船用柴油机机座主轴承座上铸造缺陷的修复方法
(872949-0313) 检测掩模缺陷的方法,计算机程序和基准衬底
(872949-0312) 辊弯成形冷弯型钢表面缺陷实验装置及实验方法
(872949-0311) 在fet器件中形成具有低缺陷密度的镍硅化物的方法和装置
(872949-0310) 一种干式变压器线圈缺陷检测方法
(872949-0309) 一种原木板材表面缺陷的修补方法
(872949-0308) 双机架ucm平整机组带钢表面色差缺陷综合治理方法
(872949-0307) 厚壁大径管对接焊缝根部缺陷检测方法
(872949-0306) 光掩模、光掩模制造方法以及光掩模缺陷修正方法
(872949-0305) 缺陷检测装置和缺陷检测方法
(872949-0304) 改善pecvd不定形碳膜层的膜内缺陷的方法
(872949-0303) 用于减少晶片表面缺陷的湿式蚀刻方法及其装置
(872949-0302) 利用容性引线框传感检测开路缺陷的装置和方法
(872949-0301) 木材方料与板料的缺陷挖补方法
(872949-0300) 热轧支承辊表面缺陷修复方法
(872949-0299) 用于检测诸如轧制 拉制金属条的工件上的表面缺陷的装置和方法
(872949-0298) 有源矩阵衬底、显示装置以及像素缺陷修正方法
(872949-0297) 一种柴油机气缸体格兰孔缺陷的修复方法
(872949-0296) 用于检测轨道中缺陷的系统和方法
(872949-0295) 蜂房式过滤器缺陷检测方法和装置
(872949-0294) 液晶显示装置连续点缺陷的修复方法
(872949-0293) 缺陷分布图案的对照方法和装置
(872949-0292) 一种测量和记录透明制件光学缺陷的方法
(872949-0291) 基于机器视觉的焊球表面缺陷检测装置与方法
(872949-0290) 具有减少缺陷的大的氮化铝晶体及其制造方法
(872949-0289) 一种通过调节缺陷检查设备参数过滤芯片锥形缺陷的方法
(872949-0288) 钻孔灌注桩的夹层缺陷压注混凝土的处理方法
(872949-0287) 晶圆表面与工艺微粒与缺陷的监控方法
(872949-0286) 用于缺陷增强的方法
(872949-0285) 磷硅玻璃底切缺陷的改善方法
(872949-0284) 液晶显示装置的电路缺陷修补方法以及装置
(872949-0283) 含未焊透缺陷的压力管道安全评定方法
(872949-0282) 去除干版或菲林中黑缺陷的处理液及处理方法
(872949-0281) 硅片制品缺陷分析方法及装置
(872949-0280) 一种带钢卷取机空心轴缺陷处理修复再造的新工艺方法
(872949-0279) 去除缺陷膜层及形成氧化硅-氮化硅-氧化硅侧墙的方法
(872949-0278) 机动车辆中缺陷无线消除的方法
(872949-0277) 晶圆缺陷的检测方法
(872949-0276) 晶圆缺陷的改善方法
(872949-0275) 改善绝缘介电层缺陷及形成双镶嵌结构的方法
(872949-0274) 缺陷管理区域的定位方法
(872949-0273) 缺陷管理区域的位置确定方法
(872949-0272) 能够测量检验芯片上的粒子与缺陷数目的检测芯片的制造方法
(872949-0271) 具有低缺陷密度的半导体发光组件及其制造方法
(872949-0270) 具有低缺陷密度的半导体发光组件及其制造方法
(872949-0269) 带材表面缺陷检测成像方法及装置
(872949-0268) 灰阶掩模及其缺陷修正方法、其制造方法、图案转印方法
(872949-0267) 借助液-液界面化学液相沉积修复分子筛膜缺陷的方法
(872949-0266) 缺陷检查方法和缺陷检查装置
(872949-0265) 半导体晶圆的缺陷位置检测方法
(872949-0264) 灰阶掩模的缺陷修正方法、灰阶掩模及其制造方法
(872949-0263) 图像形成设备和缺陷喷头判断方法
(872949-0262) 一种晶圆缺陷的修复方法
(872949-0261) 动态随机存储器的缺陷修补方法
(872949-0260) 改善微反射镜间介质层缺陷及制作硅基液晶显示器的方法
(872949-0259) 改善微反射镜间介质层缺陷及制作硅基液晶显示器的方法
(872949-0258) 玻璃制品的缺陷检测系统及方法
(872949-0257) 修补带缺陷光罩图形的方法
(872949-0256) 减少镀膜的缺陷数的制造半导体器件的方法
(872949-0255) 记录介质、及在记录介质上记录缺陷管理信息的方法和装置
(872949-0254) 缺陷的检测结构及其制作方法、检测方法
(872949-0253) 目视检验仪中自动检测物品缺陷的方法和系统
(872949-0252) 一种防止刻蚀制程中产生表面缺陷的方法
(872949-0251) 注塑机消除注塑制品缺陷系统及其参数寻优方法
(872949-0250) 用于补偿平板显示器的显示缺陷的方法和装置
(872949-0249) 磁盘驱动器中用于探测伺服数据的缺陷的方法和装置
(872949-0248) 灰阶掩模的缺陷修正方法和制造方法、灰阶掩模及图案转印方法
(872949-0247) 用于探测诸如轧制 冷拉金属杆的工件上的表面缺陷的装置和方法
(872949-0246) 灰阶掩模的缺陷检查方法及装置及其制造方法、光掩模的缺陷检查方法、图案转印方法
(872949-0245) 灰阶掩模的缺陷修正方法和制造方法以及灰阶掩模
(872949-0244) 超声相控阵检测油气管道环焊缝缺陷类型自动识别方法
(872949-0243) 轧制过程中测量并调整轧辊表面不平度缺陷的方法
(872949-0242) 检测电子卡上的元件安装缺陷的方法
(872949-0241) 用于执行系统缺陷分析的方法和设备
(872949-0240) 用于检测玻璃板端面缺陷的装置和方法
(872949-0239) 能避免铜双镶嵌结构在平坦化工艺时产生缺陷的方法
(872949-0238) 具有低缺陷的半导体衬底及其制造方法
(872949-0237) 多遍结构阵列式喷墨打印机及补偿不规则喷嘴缺陷的方法
(872949-0236) 用于改善半导体器件制造中的金属缺陷的方法
(872949-0235) 聚烯烃管道电熔焊接接头冷焊缺陷的超声检测方法
(872949-0234) 缺陷检查系统及缺陷检查方法
(872949-0233) 用于检查膜缺陷的设备和方法
(872949-0232) 管理记录介质中的缺陷的方法和设备
(872949-0231) 一种测定人类免疫缺陷病毒（1＋2型）不同抗原表位产生的特异性hiv抗体的方法及抗原条
(872949-0230) 液晶显示装置及其缺陷像素修复方法
(872949-0229) 用于制造内部覆盖元件的方法和不带中心缺陷的内部覆盖元件
(872949-0228) 在盘上形成区的方法、缺陷管理方法及记录 再现设备
(872949-0227) 在盘上形成区的方法、盘缺陷管理方法、记录 再现设备
(872949-0226) 用来检测多个填满容器中异物或缺陷的方法和装置
(872949-0225) 降低或抑制漆膜表面缺陷的水性油漆组合物和方法
(872949-0224) 用于治疗血管中的缺陷的组合物、系统和方法
(872949-0223) 有源矩阵衬底、显示装置以及像素缺陷修正方法
(872949-0222) 去除晶片针状缺陷的方法以及电容器的制造方法
(872949-0221) 热压成型过程孔隙缺陷形成条件测试装置及孔隙消除方法
(872949-0220) 图案缺陷检查方法、光掩模制造方法和显示装置基板制造方法
(872949-0219) 检测缺陷光盘片的装置与方法
(872949-0218) 用于监视和检测塑料包装密封部中的缺陷的方法和设备
(872949-0217) 灰色调掩模的缺陷修正方法与灰色调掩模
(872949-0216) 表面缺陷检查装置、表面缺陷检查方法及表面缺陷检查程序
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(872949-0214) 通过修复表面缺陷改善其机械强度的玻璃处理组合物、相应处理方法与得到的处理玻璃
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(872949-0211) 车辆轮对踏面缺陷在线检测方法及装置
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(872949-0200) 半导体器件的缺陷检测方法
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(872949-0198) 具有高弛豫和低堆垛层错缺陷密度的薄sgoi晶片的制作方法
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料(872949-0175) 一种用超声波检测结构混凝土缺陷的定量判断并直观显示的方法
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源(872949-0173) 一种等离子显示屏缺陷检查方法
：(872949-0172) 用电脉冲减少常规铸造中缩孔缺陷的方法
深(872949-0171) 控制结处的晶格缺陷数目的方法
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市(872949-0169) 检测光掩模数据库图案缺陷的方法
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宁(872949-0167) 不均缺陷检查装置和方法及光掩模的制造方法
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(872949-0142) 灰色调掩模的缺陷检查方法
(872949-0141) 灰色调掩模的缺陷校正方法
(872949-0140) 灰色调掩模的缺陷校正方法
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(872949-0138) 缺陷探测的装置和方法及其程序
(872949-0137) 用于提供基于任务的自动化的光刻掩模缺陷适印性分析的系统和方法
(872949-0136) 缺陷检查装置、缺陷检查方法和孔图形的检查方法
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